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Fukuoka Institute of Technology
物質・エネルギーデバイス研究センターの装置
(Instruments in the Research Center of Materials and Energy Devices)
・小角Ｘ線散乱測定装置
(Small angle X-ray scattering; SAXS; Rigaku, NANOPIX)
d = 0.16~154 nm (q = 0.0408~40.16 nm-1)の広い範囲の構造情報を、散乱法の理論に基づいて解析可能。Linkam社製温度コントローラを使用することで、-200〜600℃までの温度範囲で測定可能。高感度高分解能の検出器(HyPix-3000)により、二次元散乱像を取得可能。
・動的粘弾性測定装置
(Rheometer; Anton Paar, MCR302-WESP)
エラストマーやゲルなどの固体試料、コロイド溶液や高分子溶液のなどの液体試料など、さまざまな試料の粘弾性特性を測定可能。非常に小さいトルクまで測定可能な高性能の装置。透明プレートを用いることで、顕微鏡測定や分光法と組み合わせた測定も可能。
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測定トルク範囲(最大) ：200 [mNm] 測定トルク範囲(最小) ：1 [nNm] 回転測定時 温度制御 ：室温～200 [℃](溶液、ゲル用; ペルチェ素子による温度制御)または室温～450 [℃] （固体、ゴム用;ガス対流式による温度制御) Options: |